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原子尺度表征和调控拓扑绝缘体材料

来源:
报告题目   原子尺度表征和调控拓扑绝缘体材料
报告人   李绍春 教授
报告人单位   南京大学物理学院、南京大学固体微结构物理国家重点实验室
报告时间   2016-11-22 00:00:00
报告地点   中国科学技术大学物理楼519室
主办单位   合肥微尺度物质科学国家实验室、国际功能材料量子设计中心(ICQD)、中科院强耦合量子材料物理重点实验室
报告介绍

报告摘要:

拓扑绝缘体和拓扑半金属是近年来凝聚态物理领域的研究热点。单层ZrTe5被理论预言为二维拓扑绝缘体,而体材料ZrTe5的拓扑性质很难确定。在实验上一直对ZrTe5的拓扑性质存在争议,包括是否为拓扑绝缘体或拓扑半金属。我们利用扫描隧道显微镜对ZrTe5表面进行了原子尺度表征,发现体材料的ZrTe5表面同样具有二维拓扑绝缘体性质,从而推断ZrTe5为二维拓扑绝缘体材料。另外我们通过分子束外延技术成功在三维拓扑绝缘体材料Bi2Te3表面引入局域应力。⑶曳⑾指帽砻嬗αΧ阅艽峁购捅砻娑ρУ牡骺刈饔。

 

报告人简介:

李绍春 现任南京大学物理学院教授。1999年于北京大学物理系获得学士学位,2004年于中科院物理所获得凝聚态博士学位。2005年到2012年期间,先后在美国宾州州立大学、德州大学奥斯汀分校、杜兰大学和哈佛大学做博士后和研究助理教授。

主要研究方向为利用扫描隧道显微镜(STM)和分子束外延(MBE)技术研究原子尺度下的表面物理和化学。近年来的研究兴趣主要是拓扑绝缘体材料,包括实验验证拓扑绝缘体以及对其性质的调控,寻找基于拓扑绝缘体的异质结构中的奇异物理性质。迄今为止已发表论文50余篇,包括Science 1篇,Phys.Rev.Lett.6篇,J.Am.Chem.Soc.6篇,Nano Lett.1篇。

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